부산대학교 공동실험실습관
미래를 향한 힘찬 발걸음
부산대학교 공동실험실습관
미래를 향한 힘찬 발걸음
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| 모델명 | TALOS F200X |
| 설치장소 | 전자현미경실 (210) |
| 설치상태 | 고정 |
| 장비상태 | 양호 |
| 문의처 | TEL : 051-510-3411 E-mail : moonko@pusan.ac.kr |
| 오퍼레이터 | 문금옥 |
예약정보
예약가능요일 : 월요일, 화요일, 수요일,
예약가능시간/휴게시간 : 09:30~17:00 / 11:30~13:30
예약최소/최대시간/(예약단위당)예약가능건수 : 1시간 / 5시간 / 1건
예약가능기간 : 현재일로부터 2주까지
제약사항 : 당일예약불가, 당일취소불가
유의사항
* 본 장비는 [국립대학 실험실습기자재 확충사업]을 통해 도입되었습니다.
- 데이터 사용 시 반드시 [장비명]과 [기관명]이 모두 나오도록 기입 부탁드립니다.
예시. TEM samples were analyzed using a field-emission transmission electron microscope (Talos F200X, Thermo Fisher Scientific) at the Core Research Facilities (CRF), Pusan National University.
- published 된 보고서/논문은 논문정보(링크) 또는 PDF 파일을 회신해 주시길 부탁드립니다. (moonko@pusan.ac.kr)
* 운영시간
담당자의 다른 장비 업무로 운영 시간은 아래와 같습니다.
- 월: 10:30~17:00
- 화, 수: 09:30~17:00
* 예약
- 분석 신청 시, 반드시 신청자 성함, 연락처, e-mail 주소 남겨주시기 바랍니다.
(교수님 아이디 사용 시 필수. 신청자 성함, 연락처 없는 경우 '반려' 처리됩니다.)
- 예약 접수는 분석 당일 해드리고 있습니다.
- 접수된 건에 대하여 당일 취소할 경우 노쇼 처리됩니다.
- 예약 가능 기간은 현재일로부터 2주까지이며, 매일 밤 12시에 예약 가능 일정이 갱신됩니다.
예. 1월 1일 → 1월 2일~1월 16일 예약 가능 /1월 2일 → 1월 3일~1월 17일 예약 가능
- 분석 외에 기본적인 업무(장비 maintenance, 기기이용관리 등), 다른 분석 장비 운영, 장비 관리 및 운영과 관련된 기타 업무 등으로 분석 시간 조정하오니 참고해 주시기 바랍니다.
* 분석 관련
- 가능한 메일(moonko@pusan.ac.kr)로 문의주시면 친절히 답변 드리겠습니다.
- 분석과 관련된 상담은 분석 시간을 피하여, 가능하면 17시 이후로 담당자에게 연락주시면 친절히 답변 드리겠습니다.
- 본 장비로 처음 분석 시 분석 신청 전 분석 내용 및 시료, 분석 시간에 대해 담당자와 상의 바랍니다.
고배율보다는 분석의 목적(EDS, DP, HR TEM image 등)과 200kV 가속전압에 의한 sample damage를 고려해야 합니다.
* 데이터
- 분석하신 데이터는 1년만 보관됩니다. 반드시 정해진 기한 안에 저장해가시기 바랍니다.
- 파일 용량 크므로 가능한 USB 가지고 오셔서 결과 가져가시기 바랍니다.
연락처. 051-510-3411
- 데이터 사용 시 반드시 [장비명]과 [기관명]이 모두 나오도록 기입 부탁드립니다.
예시. TEM samples were analyzed using a field-emission transmission electron microscope (Talos F200X, Thermo Fisher Scientific) at the Core Research Facilities (CRF), Pusan National University.
- published 된 보고서/논문은 논문정보(링크) 또는 PDF 파일을 회신해 주시길 부탁드립니다. (moonko@pusan.ac.kr)
* 운영시간
담당자의 다른 장비 업무로 운영 시간은 아래와 같습니다.
- 월: 10:30~17:00
- 화, 수: 09:30~17:00
* 예약
- 분석 신청 시, 반드시 신청자 성함, 연락처, e-mail 주소 남겨주시기 바랍니다.
(교수님 아이디 사용 시 필수. 신청자 성함, 연락처 없는 경우 '반려' 처리됩니다.)
- 예약 접수는 분석 당일 해드리고 있습니다.
- 접수된 건에 대하여 당일 취소할 경우 노쇼 처리됩니다.
- 예약 가능 기간은 현재일로부터 2주까지이며, 매일 밤 12시에 예약 가능 일정이 갱신됩니다.
예. 1월 1일 → 1월 2일~1월 16일 예약 가능 /1월 2일 → 1월 3일~1월 17일 예약 가능
- 분석 외에 기본적인 업무(장비 maintenance, 기기이용관리 등), 다른 분석 장비 운영, 장비 관리 및 운영과 관련된 기타 업무 등으로 분석 시간 조정하오니 참고해 주시기 바랍니다.
* 분석 관련
- 가능한 메일(moonko@pusan.ac.kr)로 문의주시면 친절히 답변 드리겠습니다.
- 분석과 관련된 상담은 분석 시간을 피하여, 가능하면 17시 이후로 담당자에게 연락주시면 친절히 답변 드리겠습니다.
- 본 장비로 처음 분석 시 분석 신청 전 분석 내용 및 시료, 분석 시간에 대해 담당자와 상의 바랍니다.
고배율보다는 분석의 목적(EDS, DP, HR TEM image 등)과 200kV 가속전압에 의한 sample damage를 고려해야 합니다.
* 데이터
- 분석하신 데이터는 1년만 보관됩니다. 반드시 정해진 기한 안에 저장해가시기 바랍니다.
- 파일 용량 크므로 가능한 USB 가지고 오셔서 결과 가져가시기 바랍니다.
연락처. 051-510-3411
| 1. High resolution imaging for better quality data TEM combines outstanding high-resolution STEM and TEM imaging with industry leading energy dispersive x-ray spectroscopy (EDS) fast signal detection (total 4 channel detectors),
and 3D chemical characterization with compositional mapping. 2. The high brightness electron source delivers high total current up to five times the beam current of a standard Schottky FEG, while keeping the convergence angle small. You gain improved signal-to-noise ratio and exceptional image resolution for STEM, EDS, and high resolution TEM applications. Stability and a long lifecycle enable the high brightness FEG to deliver superior imaging efficiency. |
| 1. 200kV FEG TEM
- TEM Point resolution : 0.25nm or better - Line(lattice) resolution : 0.10nm or better - TEM Information limit : 0.12nm or better - STEM resolution : 0.16nm or better 2. STEM system hardware for TEM 3. High brightness and contrast FEG Unit 200 kV 4. Environmental enclosure 5. Piezo-enhanced Stage 6. HAADF Detector for 120/200 kV 7. On-axis BF/DF/ADF Detector 8. UltraFast mapping SDD-EDS Detector - include 4-EDS channel Detector - solid angle of 0.9 srad - detection of all elements down to and including boron - resolution is specified to ≤136 eV @ Mn-Kα for 10 kcps 9. Fast 4k × 4k CMOS based Camera system 10. CCD Camera Embedding |
| - BF(Bright field) and DF(Dark field) TEM Imaging
- SAED(Selected Area Electron Diffraction) Pattern 분석을 통한 결정재료의 결정구조 분석 - Atomic-level에서의 High Resolution Imaging (구면수차보정 Cs corrector는 없음) - DF2, DF4 Detector를 이용한 ADF-STEM Imaging - HAADF-STEM Imaging (Z-contrast) - 4개의 Detector를 이용한 빠르고 신뢰성 있는 EDS 정성 및 정량 분석 (Spectrum, Line profile, Mapping) |
| 공동실험실습관 이용절차에 준함. |
| FE-TEM : 200,000 원/시간
EDS : 260,000 원/시간 STEM : 260,000 원/시간 - 장비 사용을 위한 모든 과정 포함. - 기본 1시간, 추가 30분 단위로 수가 적용. (단, 저배율 관찰 시 기본 30분 가능) - 교외 100%, 교내 60% - Grid: 10,000원/grid (기관 구분 없이 100% 적용) |
| FE-TEM
- 제조사: Thermo Fisher Scientific (USA) - 모델명: Talos F200X EDS - 제조사: Bruker (Germany) - 시스템: Quantax - 검출기: Silicon Drift Detector (SDD)-EDS |
200kV 투과전자현미경.pdf
(1MB)